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專利法第42條

第二章發明專利 › 第三節審查及再審查

專利專責機關於審查發明專利時，得依申請或依職權通知申請人限期為下列各款之行為：
一、至專利專責機關面詢。
二、為必要之實驗、補送模型或樣品。
前項第二款之實驗、補送模型或樣品，專利專責機關認有必要時，得至現場或指定地點勘驗。

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資料來源：法務部全國法規資料庫（開放資料）。AI 白話僅供理解，正式適用以官方條文為準。